GBW13965二氧化硅纳米薄膜厚度标准物质
本标准物质主要用于薄膜厚度测量和表面化学分析（深度剖析）仪器设备的检定/校准，分析方法的确认与评价、技术仲裁测量以及测量质量控制等。
更多二氧化硅纳米薄膜厚度标准物质标准值：
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